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半导体集成电路数字锁相环测试方法的基本原理GB/T 14032-1992
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半导体集成电路模拟乘法器测试方法的基本原理GB/T 14029-1992
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半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理GB/T 14030-1992
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阴极射线管X射线辐射测试方法GB/T 14011-1992
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电子设备用固定电容器 第6部分:空白详细规范 金属化聚碳酸酯膜介质直流固定电容器 评定水平 E（可供认证用）GB/T 14005-1992
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电子设备用固定电容器 第6部分:分规范 金属化聚碳酸酯膜介质直流固定电容器（可供认证用）GB/T 14004-1992
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辉光放电显示管总规范（可供认证用）GB/T 13945-1992
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荧光显示管总规范（可供认证用）GB/T 13943-1992
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变像管和像增强管测试方法GB/T 14184-1993
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变像管和像增强管空白详细规范（可供认证用）GB/T 14183-1993
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变像管和像增强管总规范（可供认证用）GB/T 14182-1993
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充气稳压管总规范（可供认证用）GB/T 14186-1993
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半导体集成电路封装结到外壳热阻测试方法GB/T 14862-1993
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插入式电子元器件用插座及其附件总规范GB/T 15176-1994
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半导体集成电路 电压调整器系列和品种GB/T 4376-1994
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印制板用频率低于3 MHz的连接器 第1 部分:总规范 一般要求和编制有质量评定的详细规范的导则GB/T 15157-1994
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膜集成电路和混合集成电路外形尺寸GB/T 15138-1994
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气体激光器总规范GB/T 15301-1994
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端接件总规范GB/T 15286-1994
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电子设备用电位器 第一部分:总规范GB/T 15298-1994