标准编号：GB/T 19403.1-2003
标准名称：半导体器件 集成电路 第11部分:第1篇:半导体集成电路 内部目检 （不包括混合电路）
标准类型：推荐性
标准英文：Semiconductor devices--Integrated circuits--Part 11:Section 1:Internal visual examination for semiconductor integrated circuits(excluding hybrid circuits)
标准状态：现行
发布日期：2004-08-01
实施日期：2003-11-24
标准语言：中文
发布部委：
国际分类：电子学
国内标准分类号：L56
国际标准分类：31.200
技术归口：全国半导体器件标准化技术委员会
主管部门：工业和信息化部（电子）
标准类别：产品
代替标准：
起草单位：信息产业部第四研究所
起草人：