标准编号：GB/T 23414-2009
标准名称：微束分析 扫描电子显微术 术语
标准类型：推荐性
标准英文：Microbeam analysis - Scanning electron microscopy - Vocabulary
标准状态：现行
发布日期：2009-12-01
实施日期：2009-04-01
标准语言：中文
发布部委：
国际分类：成像技术
国内标准分类号：N33
国际标准分类：37.020;01.040.37
技术归口：全国微束分析标准化技术委员会
主管部门：国家标准化管理委员会
标准类别：基础
代替标准：
起草单位：中国科学院上海硅酸盐研究所
起草人：李香庭 曾毅