标准编号：GB/T 25758.2-2010
标准名称：无损检测 工业X射线系统焦点特性 第2部分：针孔照相机射线照相方法
标准类型：推荐性
标准英文：Non-destructive testing - Characteristics of focal spots in industrial X-ray systems for use in non-destructive testing - Part 2: Pinhole camera radiographic method
标准状态：现行
发布日期：2011-10-01
实施日期：2010-12-23
标准语言：中文
发布部委：
国际分类：试验
国内标准分类号：J04
国际标准分类：19.100
技术归口：全国无损检测标准化技术委员会
主管部门：国家标准化管理委员会
标准类别：方法
代替标准：
起草单位：上海泰司检测科技有限公司上海材料研究所 上海英华无损检测技术有限公司 上海诚友实业有限公司等
起草人：孔凡琴 李博 章怡明金宇飞