标准编号：GB/T 4937.3-2012
标准名称：半导体器件 机械和气候试验方法 第3部分：外部目检
标准类型：推荐性
标准英文：Semiconductor devices - Mechanical and climatic tests methods - Part 3: External visual examination
标准状态：现行
发布日期：2013-02-15
实施日期：2012-11-05
标准语言：中文
发布部委：
国际分类：电子学
国内标准分类号：L40
国际标准分类：31.080.01
技术归口：全国半导体器件标准化技术委员会
主管部门：工业和信息化部（电子）
标准类别：方法
代替标准：
起草单位：中国电子科技集团公司第十三研究所
起草人：陈海蓉 李丽霞 崔波