标准编号：GB/T 33236-2016
标准名称：多晶硅 痕量元素化学分析 辉光放电质谱法
标准类型：推荐性
标准英文：Polycrystalline silicon—Determination of trace elements—Glow discharge mass spectrometry method
标准状态：现行
发布日期：2017-11-01
实施日期：2016-12-13
标准语言：中文
发布部委：
国际分类：化工技术
国内标准分类号：G04
国际标准分类：71.040.40
技术归口：全国微束分析标准化技术委员会
主管部门：国家标准化管理委员会
标准类别：方法
代替标准：
起草单位：中国科学院上海硅酸盐研究所
起草人：卓尚军 钱荣 盛成 高捷 董疆丽申如香郑文平