标准编号：GB/T 33657-2017
标准名称：纳米技术 晶圆级纳米尺度相变存储单元电学操作参数测试规范
标准类型：推荐性
标准英文：Nanotechnologies—Electrical operating parameter test specification of wafer level nano-scale phase change memory cells
标准状态：现行
发布日期：2017-12-01
实施日期：2017-05-12
标准语言：中文
发布部委：
国际分类：电子学
国内标准分类号：L56
国际标准分类：31.200
技术归口：全国纳米技术标准化技术委员会
主管部门：中国科学院
标准类别：方法
代替标准：
起草单位：中国科学院上海微系统与信息技术研究所
起草人：陈一峰 陈小刚 宋志棠