标准编号：GB/T 35006-2018
标准名称：半导体集成电路 电平转换器测试方法
标准类型：推荐性
标准英文：Semiconductor integrated circuits—Measuring method of level converter
标准状态：现行
发布日期：2018-08-01
实施日期：2018-03-15
标准语言：中文
发布部委：
国际分类：电子学
国内标准分类号：L56
国际标准分类：31.200
技术归口：全国集成电路标准化技术委员会
主管部门：工业和信息化部（电子）
标准类别：方法
代替标准：
起草单位：深圳市国微电子有限公司工业和信息化部电子第五研究所 中国电子科技集团公司第五十八研究所 成都振芯科技股份有限公司
起草人：宦承永 邬海忠 王小强 罗彬 陆坚魏军