标准编号：GB/T 36474-2018
标准名称：半导体集成电路 第三代双倍数据速率同步动态随机存储器 （DDR3 SDRAM）测试方法
标准类型：推荐性
标准英文：Semiconductor integrated circuit—Measuring methods for double data rate 3 synchronous dynamic random access memory(DDR3 SDRAM)
标准状态：现行
发布日期：2019-01-01
实施日期：2018-06-07
标准语言：中文
发布部委：
国际分类：电子学
国内标准分类号：L56
国际标准分类：31.200
技术归口：全国集成电路标准化技术委员会
主管部门：工业和信息化部（电子）
标准类别：方法
代替标准：
起草单位：中国电子技术标准化研究院上海高性能集成电路设计中心成都华微电子科技有限公司 西安紫光国芯半导体有限公司 武汉芯动科技有限公司
起草人：孔宪伟 殷梦迪 高专 刘建明 尹萍巨鹏锦