标准编号：GB/T 41805-2022
标准名称：光学元件表面疵病定量检测方法 显微散射暗场成像法
标准类型：推荐性
标准英文：Methodology for the quantitative inspection of the defect on optics surface—Microscopic scattering dark-field imaging
标准状态：现行
发布日期：2023-05-01
实施日期：2022-10-12
标准语言：中文
发布部委：
国际分类：玻璃和陶瓷工业
国内标准分类号：N05
国际标准分类：81.040.01
技术归口：全国光学和光子学标准化技术委员会
主管部门：中国兵器工业集团公司
标准类别：方法
代替标准：
起草单位：浙江大学中国科学院大连化学物理研究所中国科学院上海光学精密机械研究所江苏皇冠新材料科技有限公司 杭州晶耐科光电技术有限公司 中国工程物理研究院激光聚变研究中心 中国兵器工业标准化研究所 福建福特科光电股份有限公司
起草人：杨甬英 曹频 刘旭 刘世杰 李炜娜 麦启波 李刚杨李茗胡丽丽徐晓飞黄木旺