标准编号：GB/T 1553-2023
标准名称：硅和锗体内少数载流子寿命的测定 光电导衰减法
标准类型：推荐性
标准英文：Test methods for minority carrier lifetime in bulk silicon and germanium—Photoconductivity decay method
标准状态：现行
发布日期：2024-03-01
实施日期：2023-08-06
标准语言：中文
发布部委：
国际分类：冶金
国内标准分类号：H21
国际标准分类：77.040
技术归口：全国半导体设备和材料标准化技术委员会
主管部门：国家标准化管理委员会
标准类别：方法
代替标准：GB/T 1553-2009
起草单位：有研半导体硅材料股份公司广州昆德半导体测试技术有限公司陕西有色天宏瑞科硅材料有限责任公司洛阳中硅高科技有限公司宜昌南玻硅材料有限公司亚洲硅业（青海）股份有限公司云南驰宏国际锗业有限公司 有色金属技术经济研究院有限责任公司 青海芯测科技有限公司 浙江海纳半导体股份有限公司 江苏中能硅业科技发展有限公司 江苏鑫华半导体科技股份有限公司 云南临沧鑫圆锗业股份有限公司
起草人：孙燕 宁永铎 贺东江 王昕 潘金平 严大洲 田新 赵培芝 普世坤 蔡丽艳 崔丁方 李素青朱晓彤薛心禄徐岩王彬蔡云鹏冉胜国韩成福高源赵晶