标准编号：GB/T 42838-2023
标准名称：半导体集成电路 霍尔电路测试方法
标准类型：推荐性
标准英文：Semiconductor integrated circuits—Measuring method of Holzer circuit
标准状态：现行
发布日期：2023-12-01
实施日期：2023-08-06
标准语言：中文
发布部委：
国际分类：电子学
国内标准分类号：L56
国际标准分类：31.200
技术归口：全国集成电路标准化技术委员会
主管部门：工业和信息化部（电子）
标准类别：方法
代替标准：
起草单位：中国电子技术标准化研究院合肥美菱物联科技有限公司东莞市国梦电机有限公司 南京中旭电子科技有限公司 北京微电子技术研究所
起草人：尹航 刘芳 张帆 刘德广 何万海唐食明