标准编号：GB/T 43612-2023
标准名称：碳化硅晶体材料缺陷图谱
标准类型：推荐性
标准英文：Collection of metallographs on defects in silicon carbide crystal materials
标准状态：即将实施
发布日期：2024-07-01
实施日期：2023-12-28
标准语言：中文
发布部委：
国际分类：电气工程
国内标准分类号：H 80
国际标准分类：29.045
技术归口：全国半导体设备和材料标准化技术委员会
主管部门：国家标准化管理委员会
标准类别：基础
代替标准：
起草单位：广东天域半导体股份有限公司北京第三代半导体产业技术创新战略联盟河北同光半导体股份有限公司山西烁科晶体有限公司北京天科合达半导体股份有限公司中国科学院半导体研究所中国电子科技集团公司第四十六研究所南京国盛电子有限公司新美光（苏州）半导体科技有限公司 有色金属技术经济研究院有限责任公司 山东天岳先进科技股份有限公司 北京大学东莞光电研究院 河北普兴电子科技股份有限公司 中国电子科技集团公司第十三研究所 湖州东尼半导体科技有限公司 中电化合物半导体有限公司 哈尔滨科友半导体产业装备与技术研究院有限公司 江苏卓远半导体有限公司
起草人：丁雄杰 刘薇 李素青 丁晓民 张红岩 杨昆 高伟 路亚娟 钮应喜 晏阳 吴殿瑞 李国鹏 张胜涛 夏秋良 韩景瑞贺东江张红李焕婷李斌尹浩田佘宗静王阳姚康金向军张新峰赵丽丽李国平