标准编号：DB35/T 1370-2013
标准名称：发光二极管芯片点测方法
所属地方：福建省
标准状态：现行
发布日期：2013-12-03
实施日期：2014-02-28
标准语言：中文
发布部委：福建省质量技术监督局
国内标准分类号：L45
国际标准分类：31.260
技术归口：省信息化局
标准类别：方法标准
代替标准：
起草单位：厦门市三安光电科技有限公司、厦门市产品质量监督检验院、福建省光电行业协会、国家半导体发光器件（LED）应用产品质量监督检验中心
起草人：蔡伟智、梁奋、李国煌、吕艳、时军朋、葛莉荭、黄松金、刘毅清、陈涛、兰国政