标准编号：GB/T 44075-2024
标准名称：纳米技术 表面增强拉曼固相基片均匀性测量 拉曼成像分析法
标准类型：推荐性
标准英文：Nanotechnology—Determination of the uniformity of SERS solid substrate—Raman mapping analysis
标准状态：即将实施
发布日期：2024-12-01
实施日期：2024-05-28
标准语言：中文
发布部委：
国际分类：计量学和测量、物理现象
国内标准分类号：A42
国际标准分类：17.040.20
技术归口：全国纳米技术标准化技术委员会
主管部门：中国科学院
标准类别：方法
代替标准：
起草单位：苏州纳微科技有限公司苏州大学中国检验检疫科学研究院 苏州市计量测试院 中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所 江苏菲沃泰纳米科技股份有限公司
起草人：郭清华 朱建荣 方丹 姜江 王震 姚建林袁亚仙席广成卢荻
SAGB/T44075—2024目次前言·…·引言N1范围2规范性引用文件3黃术语和定义··4方法概要5仪器设备6黃试剂和材料7测试过程8测试报告附录A（资料性）表面增强拉曼基片均匀性测量拉曼成像分析法示例参考文献……·11