标准编号：GB/T 30860-2014
标准名称：太阳能电池用硅片表面粗糙度及切割线痕测试方法
标准类型：推荐性
标准英文：Test methods for surface roughness and saw mark of silicon wafers for solar cells
标准状态：现行
发布日期：2015-04-01
实施日期：2014-07-24
标准语言：中文
发布部委：
国际分类：冶金
国内标准分类号：H21
国际标准分类：77.040
技术归口：全国半导体设备和材料标准化技术委员会
主管部门：国家标准化管理委员会
标准类别：方法
代替标准：
起草单位：中国有色金属工业标准计量质量研究所江苏协鑫硅材料科技发展有限公司特变电工新疆新能源股份有限公司连云港国家硅材料深加工产品质量监督检验中心 瑟米莱伯贸易（上海）有限公司 有研半导体材料股份有限公司 洛阳鸿泰半导体有限公司
起草人：徐自亮 任皓 孙燕 熊金杰 陈佳洵李锐