标准编号：GB/T 45770-2025
标准名称：表面化学分析 原子力显微术 用于纳米结构测量的原子力显微镜探针柄轮廓原位表征程序
标准类型：推荐性
标准英文：Surface chemical analysis—Atomic force microscopy—Procedure for in situ characterization of AFM probe shank profile used for nanostructure measurement
标准状态：即将实施
发布日期：2026-01-01
实施日期：2025-06-30
标准语言：中文
发布部委：
国际分类：化工技术
国内标准分类号：G 04
国际标准分类：71.040.40
技术归口：全国表面化学分析标准化技术委员会
主管部门：中国科学院
标准类别：方法
代替标准：
起草单位：上海交通大学上海大学吉林大学 上海市计量测试技术研究院 中国计量科学研究院 南京景曜智能科技有限公司
起草人：沈轶 孙洁林 胡钧 李适 蔡潇雨李源马志超王春梅