标准编号：SJ/T 11586-2016
标准名称：半导体器件10KeV低能X射线总剂量辐照试验方法
标准状态：现行
发布日期：2016-01-14
实施日期：2016-05-31
标准语言：中文
发布部委：工业和信息化部
行业分类：电子
所属部委：工业和信息化部
国内标准分类号：L40
国际标准分类：31.080.01
技术归口：工业和信息化部电子工业标准化研究院
发布部门：工业和信息化部
行业标准：无
制修订：制定
代替标准：
起草单位：工业和信息化部电子第五研究所
起草人：罗宏伟、何玉娟、恩云飞 等