SJ/T 11399-2009 半导体发光二极管芯片测试方法

标准编号：SJ/T 11399-2009

标准名称：半导体发光二极管芯片测试方法

标准状态：现行

发布日期：2009-11-16

实施日期：2009-12-31

标准语言：中文

发布部委：工业和信息化部

行业分类：电子

所属部委：工业和信息化部

国内标准分类号：L45

国际标准分类：

技术归口：中国电子技术标准化研究所

发布部门：工业和信息化部

行业标准：无

制修订：制定

代替标准：

起草单位：中国光学光电子行业协会光电器件分会、厦门华联电子有限公司等

起草人：鲍超、胡爱华 等