当前位置:首页 > 标准 > 行业标准 > SJ/T 11394-2009 半导体发光二极管测试方法

SJ/T 11394-2009 半导体发光二极管测试方法

标准号
SJ/T 11394-2009
下载格式
PDF
发布日期
2009-11-16
实施日期
2009-12-31
标准类别
行业标准
免费下载
简介

标准编号:SJ/T 11394-2009

标准名称:半导体发光二极管测试方法

标准状态:现行

发布日期:2009-11-16

实施日期:2009-12-31

标准语言:中文

发布部委:工业和信息化部

行业分类:电子

所属部委:工业和信息化部

国内标准分类号:L45

国际标准分类:

技术归口:中国电子技术标准化研究所

发布部门:工业和信息化部

行业标准:无

制修订:修订

代替标准:SJ/T 2355.1~2355.7-1983

起草单位:中国光学光电子行业协会光电器件分会

起草人:鲍超

声明:资源收集自网络无法详细核验或存在错误,仅为个人学习参考使用,如侵犯您的权益,请联系我们处理。