标准编号：GB/T 43226-2023
标准名称：宇航用半导体集成电路单粒子软错误时域测试方法
标准类型：推荐性
标准英文：Time-domain test methods for space single event soft errors of semiconductor integrated circuit
标准状态：现行
发布日期：2024-01-01
实施日期：2023-09-07
标准语言：中文
发布部委：
国际分类：航空器和航天器工程
国内标准分类号：V25
国际标准分类：49.140
技术归口：全国宇航技术及其应用标准化技术委员会
主管部门：国家标准化管理委员会
标准类别：方法
代替标准：
起草单位：北京微电子技术研究所 中国航天电子技术研究院
起草人：赵元富 陈雷 郑宏超 李哲 陈淼 王汉宁 王亮岳素格林建京李永峰