标准编号：GB/T 43227-2023
标准名称：宇航用集成电路内引线气相沉积保护膜试验方法
标准类型：推荐性
标准英文：Test methods for space vapour deposition protective film on semiconductor wire
标准状态：现行
发布日期：2024-01-01
实施日期：2023-09-07
标准语言：中文
发布部委：
国际分类：航空器和航天器工程
国内标准分类号：A29
国际标准分类：49.040
技术归口：全国宇航技术及其应用标准化技术委员会
主管部门：国家标准化管理委员会
标准类别：方法
代替标准：
起草单位：北京微电子技术研究所 中国航天电子技术研究院
起草人：赵元富 姚全斌 荆林晓 李洪剑 曹燕红 刘思嘉 林鹏荣冯小成付明洋林建京刘征宇